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TECHNICAL ARTICLESLTS-I 系列红外干涉测厚传感器:纳米级精度赋能半导体制造
2025-09-14 一、产品概述LTS-I系列红外干涉测厚传感器是专为半导体、先进封装及化合物半导体等高精度制造领域打造的专业测厚设备,通过“高精度探头+高性能控制器”的组合(适配LTS-IRP-D20测距型探头、LTS-IRP-T50测厚型探头,搭配LTS-IRC5400-S控制器),实现从“纳米级精度检测”到“高速在线全检”的全场景覆盖。产品以“零接触、高稳定、强适配”为核心特性,可精准应对超薄晶圆、多层半导体材料及先进封装组件的厚度测量需求,为产线工艺监控、良率提升及成本控制提供关键数据支...看泓川科技国产光谱共焦传感器LTC1200如何对手机屏幕缝隙测量
2025-08-30 一、案例背景与测试需求智能手机屏幕与中框的缝隙是影响产品可靠性、防水性能及外观品质的关键指标——缝隙过大会导致灰尘、水汽侵入,影响内部元器件寿命;缝隙不均匀则破坏外观一致性,甚至引发屏幕按压异响。本案例针对某型号OLED智能手机的屏幕-中框组装缝隙展开测量,具体需求如下:缝隙规格:设计要求缝隙宽度为50~150μm(0.05~0.15mm),深度差≤20μm,全长度(20mm)内均匀性误差≤5μm;材料兼容性:扫描范围内同时存在透明材料(屏幕盖板,3D曲面玻璃,透光率92%)...泓川LTP系列激光位移传感器全产业链国产化实践:从核心部件到军工应用突破
2025-07-30 x一、泓川科技发展历程:从技术攻坚到产业突围的国产化之路(一)创立初期:光学测量技术的本土化探索(2016-2018年)无锡泓川科技成立于2016年,聚焦工业自动化领域光学测量技术空白,初期以代理海外激光位移传感器产品切入市场,同步组建核心研发团队,针对国内制造业对高精度测量设备的迫切需求,启动国产化技术预研。2018年,公司首ci突破激光光路校准核心技术,自主研发出shou台实验室级激光位移测量模块,奠定光学系统设计基础。(二)技术攻坚:核心部件国产化突破(2019-202...LTP系列激光位移传感器在钙钛矿太阳能电池厚度测量中的精准应用
2025-07-23 钙钛矿太阳能电池作为第三代光伏技术的核心,其光电转换效率高度依赖于吸光层厚度的精准控制。过薄会导致光吸收不足,过厚则引发载流子复合加剧,最you厚度需稳定在400-600nm区间。无锡泓川科技LTP系列激光位移传感器凭借超高精度、多场景适配性及智能化集成能力,成为钙钛矿层厚度在线监测与工艺优化的理想解决方案。一、钙钛矿层厚度测量的核心挑战钙钛矿薄膜的纳米级厚度均匀性直接决定器件性能:精度要求严苛:厚度偏差需控制在±10nm以内,否则可能导致短路电流密度下降或开路...基于泓川科技LTC4000F激光位移传感器的凸面镜面 3D 轮廓扫描技术案例
2025-07-13 一、方案背景与需求凸面镜面作为光学系统中的关键元件,其3D轮廓精度直接影响光学性能(如成像质量、光路偏转精度)。传统接触式测量易划伤镜面,而普通光学测量受限于角度范围和量程,难以覆盖凸面的曲面变化(大段差、大曲率)。针对这一需求,本方案采用LTC4000F光谱共焦传感器搭配LT-CCS单通道控制器,利用其超大测量角度、超大量程及高精度特性,实现凸面镜面3D轮廓的非接触式精确扫描。二、方案原理与组成1.核心技术原理:光谱共焦技术光谱共焦技术基于“不同波长光聚焦于不同距离”的物理...公司邮箱: qinyuankang@163.com
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