一、产品概述LTS-I系列红外干涉测厚传感器是专为半导体、先进封装及化合物半导体等高精度制造领域打造的专业测厚设备，通过“高精度探头+高性能控制器”的组合（适配LTS-IRP-D20测距型探头、LTS-IRP-T50测厚型探头，搭配LTS-IRC5400-S控制器），实现从“纳米级精度检测”到“高速在线全检”的全场景覆盖。产品以“零接触、高稳定、强适配”为核心特性，可精准应对超薄晶圆、多层半导体材料及先进封装组件的厚度测量需求，为产线工艺监控、良率提升及成本控制提供关键数据支...

一、案例背景与测试需求智能手机屏幕与中框的缝隙是影响产品可靠性、防水性能及外观品质的关键指标——缝隙过大会导致灰尘、水汽侵入，影响内部元器件寿命；缝隙不均匀则破坏外观一致性，甚至引发屏幕按压异响。本案例针对某型号OLED智能手机的屏幕-中框组装缝隙展开测量，具体需求如下：缝隙规格：设计要求缝隙宽度为50~150μm（0.05~0.15mm），深度差≤20μm，全长度（20mm）内均匀性误差≤5μm；材料兼容性：扫描范围内同时存在透明材料（屏幕盖板，3D曲面玻璃，透光率92%）...

彩色同轴激光传感器可以根据不同的应用需求进行定制化设置。通过调整激光的参数、色彩处理算法以及数据处理方式等，可以适应各种不同形状、大小、材质和颜色的物体检测。无论是大型机械设备的零部件检测，还是小型电子元器件的检测，亦或是对高速运动物体的实时监测，都能够通过合理的配置和优化，实现准确可靠的检测功能，具有很强的通用性和适应性。彩色同轴激光传感器的优点：(一)高精度检测能够提供较高的检测精度。由于激光具有方向性好、能量集中的特点，使得传感器可以准确地探测到物体表面的微小细节和变化...

多层减反射膜厚度分布对反射率的影响研究及LT-R系列膜厚仪应用解析一、多层减反射膜的技术原理与厚度控制意义在光学器件领域，多层减反射膜通过精确调控膜层结构实现光反射率的显著降低，其核心原理基于薄膜光学中的干涉效应。多层膜通常由交替的高折射率（H）和低折射率（L）材料堆叠而成，如H-L或H-L-H结构，通过优化各层厚度与折射率，可在特定波段形成相消干涉，从而提升透射率、减少眩光并优化成像质量。从眼镜镜片到太阳能电池板，从相机镜头到精密光学仪器，减反射膜的性能直接决定了光学系统的...

x一、泓川科技发展历程：从技术攻坚到产业突围的国产化之路（一）创立初期：光学测量技术的本土化探索（2016-2018年）无锡泓川科技成立于2016年，聚焦工业自动化领域光学测量技术空白，初期以代理海外激光位移传感器产品切入市场，同步组建核心研发团队，针对国内制造业对高精度测量设备的迫切需求，启动国产化技术预研。2018年，公司首ci突破激光光路校准核心技术，自主研发出shou台实验室级激光位移测量模块，奠定光学系统设计基础。（二）技术攻坚：核心部件国产化突破（2019-202...

钙钛矿太阳能电池作为第三代光伏技术的核心，其光电转换效率高度依赖于吸光层厚度的精准控制。过薄会导致光吸收不足，过厚则引发载流子复合加剧，最you厚度需稳定在400-600nm区间。无锡泓川科技LTP系列激光位移传感器凭借超高精度、多场景适配性及智能化集成能力，成为钙钛矿层厚度在线监测与工艺优化的理想解决方案。一、钙钛矿层厚度测量的核心挑战钙钛矿薄膜的纳米级厚度均匀性直接决定器件性能：精度要求严苛：厚度偏差需控制在±10nm以内，否则可能导致短路电流密度下降或开路...