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LT-I 系列白光干涉测厚仪基于白光干涉原理，专为薄膜、涂层厚度测量设计，具备纳米级精度、超快采样速度及宽范围适应性，适用于半导体、新能源、光学薄膜等高duan制造领域。
更新时间：2025-05-13
产品型号：LT-I系列
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