LT-I 系列干涉测厚传感器全面产品介绍
一、产品概述
LT-I 系列白光干涉测厚仪基于白光干涉原理，专为薄膜、涂层厚度测量设计，具备纳米级精度、超快采样速度及宽范围适应性，适用于半导体、新能源、光学薄膜等高duan制造领域。
二、白光干涉测厚仪的核心优势(产品亮点)
超高精度
重复精度达 1nm，线性误差 ±20nm，实现纳米级厚度测量。
非接触式测量，避免接触损伤样品表面。
超快速度与宽范围
最高 10kHz 采样频率，满足高速动态测量需求。
超大测厚范围：常规型号厚度测量范围 1μm~2500μm(折射率 1.5 时)，适配不同薄膜厚度场景。
环境适应性强
抗干扰能力强，不受电磁干扰影响。
宽范围工作距离，部分型号建议安装距离 5-10mm，兼容复杂工况。
零发热探头设计：探头内部无电子元件，避免发热导致的夹具变形和光轴偏移，确保长期稳定测量。
光源技术升级
超高亮度彩色激光光源：通过蓝光激发荧光体生成多色光，较传统白色 LED 光源，发光波段更广、亮度更稳定，提升干涉信号解析精度。泓川科技国产纳米级白光干涉测厚仪
三、测量原理
利用白光干涉现象：
光源发射：白色点光谱经干涉探头照射到样品表面，薄膜上下表面反射光(反射光 1、反射光 2)产生相位差，形成彩色干涉条纹。
信号解析：通过解析干涉条纹的相位差与光程差关系，计算薄膜厚度(厚度与相位差直接相关)。
非接触测量：无需接触样品，通过光谱信号处理实时获取厚度值。
四、白光干涉测厚仪的技术参数与型号配置
| 型号 | LT-IVS-100 | LT-IVS-100W | LT-IVS-50 | LT-IVS-50W |
| 适配探头 | IVP-T50（聚焦光点，Φ100μm） | IVP-T10-UV-VIS（弥散光斑，10mm 距离时 Φ4mm） | IVP-T50 | IVP-T10-UV-VIS |
| 参考距离 | 50mm | 非聚焦探头 | 50mm | 非聚焦探头 |
| 测量范围 | ±2mm（厚度：2μm~100μm，折射率 1.5 时） | 建议安装距离 5-10mm（厚度：1μm~50μm，折射率 1.5 时） | ±2mm | 建议安装距离 5-10mm |
| 精度指标 | 重复精度 1nm，线性误差 ±20nm | 重复精度 1nm，线性误差 ±20nm | 重复精度 1nm，线性误差 ±20nm | 重复精度 1nm，线性误差 ±20nm |
| 测量角度 | ±3° | ±10° | ±3° | ±10° |
| 采样频率 | 最高 10kHz | 最高 10kHz | 最高 10kHz | 最高 10kHz |
| 探头规格 | Φ30×58mm，90g，IP40 防护 | Φ6.35×65mm，轻量化设计 | Φ30×58mm，90g，IP40 防护 | Φ6.35×65mm，轻量化设计 |
| 接口 | Ethernet（100BASE-TX）、USB2.0、RS-485（Modbus 协议） | 同左 | 同左 | 同左 |
| 电源 | 24VDC±10%，电流 0.4A | 同左 | 同左 | 同左 |
| 工作环境 | 温度 0~50℃，湿度 20~85% RH（无冷凝） | 同左 | 同左 | 同左 |
五、典型应用场景
电子行业：触摸屏 ITO 膜厚测量、UTG 超薄柔性玻璃厚度检测。
新能源：锂电隔膜厚度在线监测、光伏薄膜均匀性检测。
材料科学：PET 多层膜材厚度分层测量、光学涂层厚度控制。
精密制造：半导体晶圆薄膜沉积厚度监控、微纳结构表面形貌分析。
六、配套支持
软件与开发：
上位机软件 TSConfocalStudio，支持实时数据显示与分析。
提供 C++/C# 二次开发包，便于集成至自动化产线。
硬件适配：
支持编码器触发与脉冲 / 电平触发输入，兼容多种工业控制信号。
模拟信号输出(±10V 电压 / 4~20mA 电流)与数字信号输出(警报、比较器)，满足不同设备接口需求。
七、白光干涉测厚仪的设计亮点
紧凑轻量化：最小探头直径仅 6.35mm，适合狭小空间安装。
光纤设计：光纤接头预留距离 100mm，静态 / 动态弯曲半径分别为 30mm/60mm，提升布线灵活性。
长期稳定性：无发热探头结构，避免温度漂移影响，确保高精度持续测量。
总结
LT-I 系列干涉测厚传感器以纳米级精度、超快响应和高可靠性，成为薄膜厚度测量的理想选择，广泛应用于高duan制造的质量控制与工艺优化，助力客户实现精密测量与生产效率提升。
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